Microscopia elettronica di trasmissione, o TEM e la scansione microscopia elettronica o SEM, sono due tipi specializzati di formazione immagine ad alto ingrandimento. I due sistemi utilizzano diversi metodi per mappare i campioni e interagire con i campioni. Gli esempi per ogni tipo di imaging devono essere preparati in un modo unico. SEM e metodi di formazione immagine TEM offrono diversi livelli di risoluzione.
SEM
SEM è un elettrone di imaging che analizza solo la superficie di un campione. Formazione immagine SEM cattura gli elettroni secondari e gli elettroni di backscattered al fine di mappare un'immagine. Campioni utilizzati nella formazione immagine SEM devono essere preparati su Stub specializzati in alluminio, invece le diapositive di vetro utilizzate in microscopia ottica.
TEM
D'altra parte, il TEM è anche un tipo di formazione immagine dell'elettrone, ma TEM tramsits attraverso un campione di scansione. Questo permette agli scienziati di guardare oltre la superficie in materiale particolato campione. Esempi per l'utilizzo in TEM di scansione possono essere letti solo quando preparati su una griglia TEM supportata.
Funzionalità di SEM
Nel SEM, il campione in esame si svolge in una camera nella parte inferiore del microscopio. Questi microscopi tendono a proiettare i loro risultati attraverso un monitor televisivo, anche se questo può variare da modello. Formazione immagine di SEM può raggiungere risoluzioni di nanometri fino a due e livelli di ingrandimento di fino a 200 000 volte.
Funzionalità di TEM
Sistemi di TEM leggere campioni di ospitarle in un palco specializzati giù la colonna di macchine. TEM sistemi tendono a visualizzare risultati su schermi fluorescenti, ma offrono un'alimentazione di risoluzione notevolmente aumentata nel corso di formazione immagine di SEM. Microscopi elettronici della trasmissione può raggiungere livelli di ingrandimento di fino a 500 000 volte.