Un microscopio elettronico permette ai ricercatori di Mostra gli esemplari che sono di gran lunga più piccoli di quanto l'occhio può vedere. Mentre un microscopio ottico si basa sui raggi di luce diffusa per ingrandire un'immagine, un microscopio elettronico utilizza un flusso di elettroni, permettendo di ingrandire un'immagine quanto più di 300.000 volte. Esistono due tipi comuni di microscopi elettronici: il microscopio elettronico a scansione (SEM) e il microscopio elettronico a trasmissione (TEM). Microscopia elettronica di trasmissione possiede maggiore potere di ingrandimento di microscopia elettronica, consentendo un spettatore di vedere gli oggetti piccoli come un nanometro in tutto. Tuttavia, microscopia SEM consente un'immagine 3D di un esemplare e gode l'uso più diffuso.
Istruzioni
• Individuare un microscopio elettronico. Molte università ed università hanno un microscopio SEM che si può essere in grado di utilizzare nelle giuste condizioni. Se uno studente o un ricercatore e a seconda delle regole, si può essere in grado di applicare per utilizzare il microscopio SEM per il progetto.
Molto più potente, microscopia elettronica di trasmissione non è accessibile come microscopia SEM, e i modelli attuali sono molto utilizzati per la ricerca sulle nanotecnologie. Tuttavia, alcune università ed università avrà anche questi modelli disponibili. Verifica con il tuo istituto scolastico locale per vedere se si può applicare ad per usare loro microscopio TEM.
• Pulire il vostro esemplare. Quando si utilizza il microscopio SEM o TEM, l'esemplare deve essere accuratamente preparata. La microscopia SEM opera all'interno di un vuoto, quindi campioni biologici devono essere disidratati o congelati per evitare di danneggiare l'esemplare. I campioni devono anche essere privi di polvere o eventuali altri contaminanti che possono interferire o ostacolare una visione altamente ingrandita.
• Rivestire il vostro provino (se necessario). Poiché un microscopio SEM utilizza elettroni per produrre un'immagine, il campione deve essere conduttivo o sottilmente rivestiti con un materiale conduttivo (ad esempio oro o altro metallo). Un dispositivo chiamato un sputter coater viene utilizzato per rivestire tali esemplari.
• Tintura o affettare il vostro provino (se necessario). Con microscopia elettronica di trasmissione, il campione deve essere sufficientemente sottile per consentire il flusso di elettroni che passano attraverso. Questo è possibile tagliando l'esemplare in piccoli pezzi o morendo selettiva con metalli pesanti per facilitare la dispersione degli elettroni.
• Operare il telescopio di elettrone. Sia un TEM e SEM Microscopio proietterà l'immagine su una vicina monitor o schermo. Molto simile a un telescopio ottico, si può regolare il contrasto, messa a fuoco e ingrandire utilizzando i controlli trovati il microscopio stesso o su una console collegata. Microscopi elettronici non utilizzare lenti e invece utilizzare elettromagneti per manipolare il flusso di elettroni. Microscopi TEM hanno più potere, ma producono immagini semplici, bidimensionale, mentre la microscopia SEM produce immagini cleaner, tridimensionale.
• Acquisire un'immagine del campione (se desiderato). Con microscopia elettronica di trasmissione, è possibile creare una fotografia inserendo una piastra specializzata sotto il campione. Come gli elettroni passano attraverso il campione durante il funzionamento del microscopio, che scuotere la piastra e creare un'immagine. Inoltre, molte applicazioni software esistono per l'acquisizione di immagini digitali come bene.
Consigli & Avvertenze
- Se si desidera un'immagine 3D del tuo campione, utilizzare un microscopio elettronico a scansione. Se avete bisogno di vedere all'interno di un esemplare o bisogno di lavorare con la nanotecnologia, utilizzare un microscopio elettronico a trasmissione.
- Lo scattering di elettroni emette radiazione a raggi x, che è possibile è nocivo. Mentre la camera a vuoto possiede speciale schermatura per proteggere gli operatori microscopio elettronico, garantire che il tuo modello ha avuto recente ispezione.